Методы исследования и контроля качества оптических систем
Кирилловский В.К., Точилина Т.В.
В пособии рассматриваются анализ и синтез схемных решений аппаратуры и методов оценки качества оптического изображения и измерения его характеристик включая инновационные решения, предпосылки компьютерного моделирования этих процессов, типовые узлы приборов, методы и схемы для измерения и оценки параметров и характеристик качества изображения, даваемого оптическими системами и элементами. Кроме того, рассматриваются анализ и синтез схемных решений современной аппаратуры для измерения деформаций волнового фронта, связанных с аберрациями оптических систем и ошибок оптических поверхностей. Рассмотрены эффективные косвенные методы оценки качества изображения оптических систем путем компьютерной расшифровки интерферограмм и математической обработки интерферометрической информации с целью определения характеристик качества изображения. Даны характеристики точности интерферометрии и современные методы повышения точности. Указаны пути применения компьютеров в оптическом приборостроении при измерениях и контроле аберраций и качества изображения. Учебное пособие предназначено для студентов оптических специальностей, изучающих методы оптических измерений по направлению подготовки «Оптотехника», а также может быть полезным для инженерно-технических работников исследовательских лабораторий и для технологов оптического производства.;Гриф:Рекомендовано Учебно-методическим объединением вузов Российской Федерации по образованию в области приборостроения и оптотехники для студентов высших учебных заведений
Տարի:
2012
Հրատարակչություն:
Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и
Լեզու:
russian
Էջեր:
125
Ֆայլ:
PDF, 4.08 MB
IPFS:
,
russian, 2012